基于差分批次数据的重复确定性扰动下批次过程辨识

研究提出利用差分批次数据在重复且确定性扰动下进行批次过程辨识的方法。该方法针对存在重复性确定性扰动的批次过程，通过差分处理批次数据实现过程模型辨识，作者为 Yujin Cheon、Kyungrok Jeong、Jiyun Kim、Kyung Hwan Ryu、Su Whan Sung，成果发表于 Computers & Chemical Engineering 第 215 卷。