氧氧化还原正极中脆弱准平带引发的电压滞后

氧氧化还原正极在首圈等过程中电压滞后超过1 V，长期制约锂/钠离子电池能量效率与实用化。研究提出准平带框架：费米能级附近的氧2p态对扰动本征敏感，脱锂时的轻微晶格畸变或室温热振动即可放大能带色散并诱发滞后。未来材料设计应稳定对称性以维持准平带特征，并通过轨道杂化增强其抗扰动能力。