arXiv · battery（physics.app-ph）· Lukas Köbbing·· 9 天前精选AI 评分72
电子扩散介导的SEI生长模型在LFP/石墨电芯多工况下验证一致
Consistent Modeling of SEI Growth via Electron Diffusion Validated Across Diverse Cell Specifications and Operating Conditions in LFP/Graphite Cells
模型导读
作者提出并验证了电子扩散介导的SEI生长模型，通过负极电位对电子浓度的影响内在地刻画老化对SOC的依赖，并显式考虑电解液盐、负极材料、温度和循环倍率的变化。模型在LFP/石墨电芯实验老化数据上验证，覆盖受限SOC窗口、LiFSI与LiPF6、AGC与AGD人造石墨、40-70°C和C/20-1C，全部实验用同一套参数模拟容量衰减而无需重新标定。
推荐理由
该模型用电子扩散机制解释SEI生长的SOC依赖性，并以单套参数跨电解液盐、石墨类型、温度和倍率验证，可供老化建模参考。
来源：arXiv · battery（physics.app-ph） · arxiv.org