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学生自制电芯测试台内阻误估：四线 Kelvin 探针将接触电阻与 SOH 分类可靠性关联的评估
Battery Internal-Resistance Misestimation in Student-Built Engineering Education Cell-Test Benches: A Four-Wire Kelvin Probe Evaluation Linking Contact Resistance to State-of-Health Classification Reliability
模型导读
毛里求斯大学研究指出，工程教育中学生自制的电芯测试台常用两线法测内阻，却未把探针-电极界面的接触电阻从电芯欧姆内阻中分离。敏感性分析显示，5 mΩ 接触电阻即可让 50 mΩ 电芯在单一基线参考下跨越 20% SOH 阈值。作者据此提出设计规则：采用接触电阻上限 ≤1 mΩ 的四线 Kelvin 探针并在每次测试前用校准分流器验证，可使 40 mΩ 以上电芯的分类误差低于 5%。
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