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XPS 与电气滥用测试揭示半固态电池失效差异
Demystifying Semi-Solid-State Batteries: Insights from X-Ray Photoemission Spectroscopy and Electrical Abuse Tests
模型导读
研究用 X 射线光电子能谱表征四类半固态电芯的新鲜正极，并按 IEC 62660-2:2018 与 IEC 62660-3:2022 分别开展外部短路（ESC）和过充测试。
推荐理由
研究用 XPS 与 IEC 标准短路、过充测试对比四类半固态电芯，给出 dV/dt 作为电压失效前兆的判据。
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