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半固态电池XPS表征与电滥用测试研究
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事件综述
2026年10月29日,一项发布在Zenodo的研究报道了对半固态电池的表征与安全测试。研究采用X射线光电子能谱(XPS)对四类半固态电芯的新鲜正极进行表征,并依据IEC 62660-2:2018开展外部短路(ESC)测试、依据IEC 62660-3:2022开展过充测试,以揭示不同电芯在电气滥用条件下的失效差异。目前报道仅涉及测试方法与研究对象,尚未给出具体测试结果或失效机理结论。
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最新进展10月29日 17:48
研究用XPS表征四类半固态电芯正极,并按两项IEC标准开展外部短路与过充测试。报道时间线
沿着报道,了解事件的不同侧面。
10月29日
- Zenodo · battery 数据与软件精选XPS 与电气滥用测试揭示半固态电池失效差异
研究用 X 射线光电子能谱表征四类半固态电芯的新鲜正极,并按 IEC 62660-2:2018 与 IEC 62660-3:2022 分别开展外部短路(ESC)和过充测试。
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